* 새로운 기능 또는 개선 기능
보조 도구
- 측정 시스템 분석
- 공정 능력 분석
- 그래픽 분석
- 가설 검정
- 회귀 분석
- 실험계획법
- 관리도
그래픽
- 그래프 작성기(그래프 빌더)*
- 표로 작성된 통계량*
- Pareto 차트*
- 그룹화된 산점도, 상자 그림, 버블도, 막대 차트, 자기 상관 함수 도표, 점도표, 히트맵, 히스토그램, 산점도 행렬, 평행좌표도, 산점도, 시계열도 등.
- 등고선 및 3D 그림 회전
- 확률 및 확률 분포도
- 데이터가 변경됨에 따라 자동으로 그래프 업그레이드
- 그래프를 브러싱하여 관심 있는 점 조사
- 내보내기: TIF, JPEG, PNG, BMP, GIF, EMF로 내보낼 수 있습니다.
기초통계
- 기술 통계량
- 1-표본 Z-검정, 1-표본 및 2-표본 t-검정, 쌍체 t 검정
- 단일 비율 및 두 비율 검정
- 1-표본 및 2-표본 포아송 비율 검정
- 단일 및 두 표본 분산 검정
- 상관 및 공분산
- 정규성 검정
- 특이치 검정
- 포아송 적합도 검정
회귀 분석
- Cox 회귀 분석
- 선형 회귀 분석
- 비선형 회귀 분석
- 이항, 순서형 및 명목형 로지스틱 회귀 분석
- 안정성 연구
- 부분 최소 제곱
- 직교 회귀 분석
- 포아송 회귀 분석
- 그림: 잔차 그림, 요인 그림, 등고선도, 표면도 등
- Stepwise: p-값, AICc 및 BIC 선택 기준
- 최량 부분 집합
- 반응 예측 및 최적화
- 모형 검증
- MARS (Multivariate Adaptive Regression Splines)
분산 분석
- 분산 분석
- 일반 선형 모형
- 혼합 모형
- 다변량 분산 분석
- 다중 비교
- 반응 예측 및 최적화
- 등분산 검정
- 그림: 잔차 그림, 요인 그림, 등고선도, 표면도 등
- 평균 분석
측정 시스템 분석
- 데이터 수집 워크시트
- Gage R&R(교차)
- Gage R&R(내포)
- Gage R&R 확장
- Gage 런 차트
- Gage 선형성 및 치우침
- 유형 1 Gage 연구
- 계수형 Gage 연구
- 측정 프로세스 평가(EMP 교차)*
- 계수형 합치도 분석
품질 도구
- 런 차트
- Pareto 차트
- 특성요인도
- 계량형 관리도: XBar, R, S, XBar-R, XBar-S, I, MR, I-MR, I-MR-R/S, 구역(Zone), Z-MR
- 계수형 관리도: P, NP, C, U, Laney P’ 및 U’
- 시간 가중 관리도: MA, EWMA, CUSUM
- 다변량 관리도: T2, 일반화 분산, 다변량 지수가중이동평균[MEWMA]
- 희귀 사건 관리도: G 및 T
- 과거/공정 이동 관리도
- Box-Cox 및 Johnson 변환
- 개별 분포 식별
- 공정 능력: 정규, 비정규, 계수형, 배치
- 비모수적 공정 능력 분석*
- 자동화된 공정 능력 분석*
- Process Capability SixpackTM
- 공차 구간
- 합격 표본 추출 및 OC 곡선
- 다변량 차트
- 변동성 차트
실험 계획법(DOE)
- 확정적 선별 설계
- Plackett-Burman 설계
- 2-수준 요인 설계
- 분할구 설계
- 일반 요인 설계
- 반응 표면 설계
- 혼합물 설계
- D-최적 및 거리 기반 설계
- Taguchi 설계
- 사용자 지정 설계
- 이항 반응 분석
- 요인 설계의 변동성 분석
- 변형된 런
- 효과도: 정규, 1/2 정규, Pareto
- 반응 예측 및 최적화
- 그림: 잔차 그림, 주효과도, 교호작용도, 입방체도, 등고선도, 표면도, 와이어프레임 그림
신뢰성/생존 분석
- 모수 및 비모수 분포 분석
- 적합도 측도
- 정확한 수명, 우측, 좌측 및 구간 관측 중단 데이터
- 가속 수명 검사
- 수명 데이터 회귀 분석
- 검사 계획
- 분계점 모수 분포
- 복구 가능한 시스템
- 다중 고장 모드
- 프로빗 분석
- Weibayes 분석
- 그림: 분포도, 확률도, 위험 그림, 생존 그림
- 보증 분석
검정력 및 표본 크기
- 추정을 위한 표본 크기
- 공차 구간의 표본 크기
- 1-표본 Z, 1-표본 및 2-표본 t
- 쌍체 t
- 단일 비율 및 두 비율
- 1-표본 및 2-표본 포아송 비율
- 단일 및 두 표본 분산
- 동등성 검정
- 일원 분산 분석
- 2-수준, Plackett-Burman 및 일반 완전 요인 설계
- 검정력 곡선
예측 분석
- 자동화된 머신러닝*
- CART® Classification
- CART® Regression
- Random Forests® Classification
- Random Forests® Regression
- TreeNet® Classification
- TreeNet® Regression
다변량
- 주성분 분석
- 요인 분석
- 판별 분석
- 군집 분석
- 대응 분석
- 항목 분석 및 Cronbach의 알파
- Multivariate Adaptive Regression Splines
시계열 및 예측
- 시계열도
- 추세 분석
- 분해
- 이동 평균[MA]
- 지수 평활
- Winters의 방법
- 자기 상관, 편 상관 및 교차 상관 기능
- ARIMA
- Box-Cox 변환*
- ADF 검정*
- 최상위 ARIMA 모델을 통한 예측*
비모수 통계
- 부호 검정
- Wilcoxon 검정
- Mann-Whitney 검정
- Kruskal-Wallis 검정
- Mood의 중위수 검정
- Friedman 검정
- 런 검정
동등성 검정
- 1-표본 및 2-표본
- 쌍체 2x2 교차 설계
표
- 카이-제곱, Fisher의 정확 및 기타 검정
- 카이-제곱 적합도 검정
- 빈도표 및 교차표
시뮬레이션 및 분포
- 난수 생성기
- 확률 밀도, 누적 분포 및 역 누적 분포 기능
- 랜덤 표본
- 부트스트래핑 및 랜덤화 검정
매크로 및 사용자 정의
- 사용자 정의 메뉴 및 도구 모음
- 광범위한 선택사항 및 사용자 프로파일
- 강력한 스크립트 작성 기능
- Python 통합
- R 통합